三箱高低溫沖擊箱，冷熱沖擊試驗箱適用于考核產品（整機）、元器件、零部件等經受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續多次因溫度變化而帶來的影響。
三高低溫箱，冷熱沖擊試驗箱技術指標：
機型 | JS-GDCJ-100/150/200/500B |
測試環境條件 | 環境溫度為+25℃、試驗箱內無試樣條件下 |
測試方法 | GB/T 5170.2-1996 溫度試驗設備 |
高溫室 | |
預溫度范圍 | RT～+200℃ |
升溫時間 | RT+10℃→+200℃ ≤40min 注：升溫時間為高溫室單獨運轉時的性能 |
低溫室 | |
預冷溫度范圍 | RT~-70℃ |
降溫時間 | RT → -70℃≤60min 注：降溫時間為低溫室單獨運轉時的性能 |
試驗室（試樣區） | |
試驗方式 | 氣動風門切換 3 溫區沖擊試驗條件（高溫-常溫-低溫） 2 溫區沖擊試驗條件（高溫-低溫） |
溫度沖擊范圍 | -55℃～ +80℃ |
溫度波動度 | ±0.5℃ |
溫度偏差 | ±2.0℃ |
溫度恢復時間 | ≤5min |
恢復條件 | 試樣：塑料封裝集成電路（均布）傳感器位置：試樣的上風側 高溫曝露： RT~+150℃：≥30分鐘 環境溫度曝露：常溫 低溫曝露： RT~-55℃：≥30分鐘 試樣重量：4.5kg（如需要放置重的試樣，請提前告知） |
制冷方式 | 水冷 |
1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗
2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
三箱高低溫沖擊箱，冷熱沖擊試驗箱用途：
三箱高低溫沖擊試驗箱試驗箱適用于考核產品（整機）、元器件、零部件等經受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環次數等因素。
